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泰克高灵敏度低噪声光模块 提高光器件制造良品率

2017-03-31 13:38:16来源:智能电子集成

[摘要] 专注测量解决方案的泰克科技公司推出业界高灵敏度、低噪声的光模块,主要是为DSA8300采样示波器设计的,改善了当前100G设计投产时的良品率。

  据悉,专注测量解决方案的泰克科技公司推出业界高灵敏度、低噪声的光模块,主要是为DSA8300采样示波器设计的,提供了不少新功能,提高了生产容量,改善了当前100G设计投产时的良品率。泰克科技还为其400G测试解决方案推出了多种增强功能,包括IEEE以太网标准推动的发射机和色散眼图闭合(TDECQ) PAM4及光测试相关配套测量。

  在美国加里福尼亚州洛杉矶2017年3月23日举办的OFC光网络和通信展览会上,泰克科技演示了最新模块和功能,以及泰克为100G/400G光特性分析和验证提供的解决方案。

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  “随着100G设计投产,制造良品率变得至关重要。”泰克科技公司高性能示波器总经理Brian Reich说,“我们最低的固有噪声为测试结果提供了更多信心,推动着光器件和互连产品不断改善制造良品率。同时,我们通过提供完善的工具和功能,深入分析及高效调试新一代数据传输技术,继续引领400G发展。”

  当安装在DSA8300采样示波器中时,最新80C17和80C18光模块提供了-14 dBm的模板测试灵敏度,超过了28 GBd PAM4标准要求,同时提供3.9 µW的业内最好的噪声性能,并支持广泛的波长。通过两通道80C18,光制造测试工程师可以使吞吐量和容量翻一番。如果器件发生故障,泰克提供了多种分析工具,可以分解噪声和抖动的信号成分,帮助工程师了解底层问题。

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[责任编辑:黄文凤]

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