基于成本与以及效能考量的内建自我测试技术显得尤为重要,自我测试电路(Built-In Self-Test),可以提高测试的错误涵盖率,缩短设计周期,并加快产品的上市速度。
与同类产品相比,新的Vishay Semiconductors 1 Form A VOR1121A6、VOR1121B6、VOR2121A8、VOR2121B8能够实现更快、无反弹的切换,工作温度范围更宽,性价比更好。
随着信号处理、视觉影像处理和控制系统算法的复杂度不断增加,在FPGA板上对硬件实现进行仿真,可以帮助验证设计在其系统环境中的工作情况。
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