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  如何减轻监控和控制汽车电源的测量负担

  本文主要分析了LTC4282 电路断路器如何减轻测量每个子系统的功率和能耗的负担，从而达到减轻了整个车辆功率和能耗的测量负担。

  
  

  汽车电源测量 智能联网汽车

  | 2017-02-23 13:37:09Pinkesh Sachdev

  
  
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  发改委正式批复由BAT筹建人工智能实验室

  据了解，该实验室着重发力于深度学习技术、计算机视觉感知技术、计算机听觉技术、生物特征识别技术、新型人机交互技术、标准化服务、深度学习知识产权七大方向。

  
  

  人工智能阿里巴巴百度

  | 2017-02-23 13:35:01

  
  
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  微软将直发第三代Hololens 确保增强现实市场

  微软方向表示，第三代Hololens的技术进步足够大，能给产品带来足够高的价值，通过提前发布第三代产品，它能确保继续领跑增强现实市场。

  
  

  Hololens增强现实

  | 2017-02-23 13:34:01

  
  
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  无人驾驶新型超快智能摄像头有望年底商用

  新加坡南洋理工大学研究团队，研发出一种新型采用独特的内置电路的“超快速、高对比度”智能摄像头，能够记录下场景间纳秒级的光强度变化，从而实时监测物体的运动。

  
  

  无人驾驶快智能摄像头

  | 2017-02-23 13:32:20

  
  
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  探讨如何借助互联企业实现智能制造

  目前中国工业企业正面临着各种挑战，智能制造势在必行，IT 与 OT 融合成为工业企业获得成功的关键所在。

  
  

  互联企业智能制造罗克韦尔自动化

  | 2017-02-23 13:31:12

  
  
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  莱迪思CrossLink IP方案 实现全新视频桥接功能

  基于CrossLink IP的设计相比前代版本逻辑的使用量减少40%，在降低功耗的同时还能实现更多功能，是消费电子、工业和汽车等各类市场的理想选择

  
  

  莱迪思CrossLink视频桥接

  | 2017-02-23 10:31:30

  
  
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  Xilinx的射频级模拟技术实现突破性5G性能

  全新的All Programmable RFSoC 消除了分立数据转换器，可将5GMassive-MIMO和毫米波无线回传应用的功耗和封装尺寸削减50-75%。

  
  

  Xilinx赛灵思RFSoC5G

  | 2017-02-23 08:02:27

  
  
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  u-blox微型多GNSS模块适用无人机和可穿戴设备

  ZOE-M8G通过同时与GPS、伽利略和格洛纳斯或北斗连接，可提供超高的定位精度。

  
  

  GNSS可穿戴设备

  | 2017-02-23 08:02:12

  
  
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  导入新技术的消费级可穿戴设备市场可望起飞

  发展至今，大多数可穿戴设备都以腕戴设备为主，另外少部份则是以智能眼镜或各类位置跟踪器为出发点所设计的产品

  
  

  智能眼镜人工智能谷歌眼镜可穿戴装置

  | 2017-02-23 08:01:58

  
  
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  ADI推出首款本质安全认证数位隔离产品

  与传统的光耦合器相比，ADI公司的IS-IS认证数位隔离器减少了所需的印刷电路板空间，从而简化了设计，由于它不再需要多个二极体和电阻

  
  

  ADI数位隔离器iCoupler光耦合器

  | 2017-02-23 08:01:35

  
  
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  Allegro DVT为安凯微电子提供多格式编码器IP

  Allegro DVT的编码器IP解决方案将被整合进安凯的新一代(SoC)产品中，主要针对工业和消费类视频监控应用。

  
  

  AllegroH.265HEVC编码器

  | 2017-02-23 08:01:27

  
  
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  捷鼎结盟Sans Digital进攻美国市场

  Sans Digital 未来的产品组合将包含捷鼎国际 NeoSapphire 系列的高效能全闪存存储阵列，此为采用创新 FlexiRemap 软体技术及固态硬盘所打造的存储产品系列

  
  

  NeoSapphireFlexiRemap捷鼎国际

  | 2017-02-23 08:01:16

  
  
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  机器学习算法预测白血病缓解 准确率达100%

  机器学习正在成为高精度预测分析和诊断领域的有力工具。

  
  

  机器学习白血病诊断

  | 2017-02-22 13:38:01

  
  
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  记忆体自我测试电路方案 解决传统IC设计挑战

  基于成本与以及效能考量的内建自我测试技术显得尤为重要，自我测试电路(Built-In Self-Test)，可以提高测试的错误涵盖率，缩短设计周期，并加快产品的上市速度。

  
  

  记忆体自我测试电路IC设计

  | 2017-02-22 13:37:57